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低频介电常数测定仪1kHz下测定聚合物薄膜等

更新时间:2020-08-19 点击次数:1067

20Hz-1MHZ范围测量参数:

测量功能

测试频率

20Hz-1MHz,10mHz分辨率

测试参数

|Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ,DCR

基本测量准确度

0.05%

等效电路

串联, 并联

数学功能

值偏差, 百分比偏差

量程方式

自动, 保持, 手动选择

触发方式

内部, 手动, 外部, 总线

测量速度(≥1kHz)

快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒

平均次数

1—255

延时时间

0—60s, 以1ms步进

校准功能

开路/ 短路/ 负载

测试端配置

五端

列表扫描

10点列表扫描功能

显示方式

直读,Δ,Δ%,V/I(被测电压/电流监视)

显示器

800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD显示器

测试信号

输出阻抗

30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可选择

测试信号电平

正常: 5mV-2V, 1mV步进
恒电平:10mV-1V, 1mV步进

偏置源

内部

0V, 1.5V, 2V

选配

UC6802A:±10V(±100mA)直流偏置电流

UC6802B:0-1A直流偏置电流

显示范围

|Z|, R, X

0.01mΩ —99.9999 MΩ

DCR

0.01 mΩ —99.9999 MΩ

|Y|, G, B

0.00001µS —99.9999 S

C

0.00001 pF —9.9999 F

L

0.00001 µH —9999.99 H

D

0.00001 —9.9999

Q

0.00001 —9999.9

θ(DEG)

-179.999º —179.999 º

θ(RAD)

-3.14159 —3.14159

其他

比较器功能

十档:(九档合格,一档不合格),另有一个附属档AUX

存储器

10组内部仪器设定供存储/调用

接口

标配RS232C、HANDLER、USB HOST,耳机接口

S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:

固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一)

液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

四 AS2838/78低频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:

1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA

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