高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料

介电常数到底是表征材料的什么性能？介电电常数和介电损耗是什么关系？

存在这样一种电学现象：介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，这种被削弱的能量，一部分被介质存起来，另一部分损耗掉（转化为热能）。为了定量描述这种现象，于是设计了“介电常数”和“介电损耗”这两个参数。
介电常数是表征材料在电场中存储电荷的能力的一种参数。
介电常数(permittivity)的定义就是，介质中电场与真空中电场的比值比值即为介电常数。
介电损耗就是表征那部分因发热而损耗掉的能量。
介质损耗（diclectric loss）的定义就是，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率

高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:

1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC 等

AS2855高频绝缘材料介电常数/介质损耗测试系统

AS2855高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的jia解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。